Atomic Force Microscopy AFM Martin Truchly Scanning Probe Microscopy (SPM) rastrovacia sondov mikroskopia modern technol gia vznik v roku 1981 s vyn lezom STM ...
RASTROVACIA SONDOV MIKROSKOPIA Andrej PLECENIK Katedra experiment lnej fyziky FMFI UK v Bratislave Rozdelenie STM pod a pracovn ho prostredia: Vzdu n variant ...